日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司專業(yè)銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。

使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。

紅框內擴大了的范圍由右圖表示。

可以更精密地測量位置。

面掃3描分析結果

微區(qū)測繪

測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。

各測量點的Mg-Kα的譜線比較

SQX方法做的定點分析結果

γ-θ樣品臺*解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強度不均的問題，保證樣品在X射線強的條件下測量。

測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平臺分辦率為100μm,實現(xiàn)了快速準確的點、線、面分析。