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主營(yíng)產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀

直讀光譜儀SPECTROLAB S----實(shí)現(xiàn)了金屬分析上的革命

點(diǎn)擊次數(shù):1809  更新時(shí)間:2020-06-18

SPECTRO全心投入開(kāi)發(fā)出發(fā)射光譜儀,開(kāi)創(chuàng)出了有別于其他公司的電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)。斯派克公司完美引入CMOS探測(cè)器技術(shù),改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來(lái)。

 

 

在所有同類(lèi)分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,元素檢測(cè)限低*限,同時(shí)她也可以提供超長(zhǎng)的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。

 

儀器的占地面積減少27%

 

定期維護(hù)的工作量(火花臺(tái)清洗)減少8倍

 

20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果(例如:低合金鋼)

 

單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間

 

元素在低合金鋼中平均檢測(cè)限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測(cè)限改善5倍

 

樣品的分析速度是儀器先進(jìn)性的重要標(biāo)志,SPECTROLAB S的推出滿(mǎn)足了金屬分析市場(chǎng)對(duì)速度的需求。例如:當(dāng)檢測(cè)低合金鋼時(shí),它可以在20秒或更短的時(shí)間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測(cè)量值!

 

SPECTROLAB S 擁有一個(gè)基于CMOS的探測(cè)器的記錄系統(tǒng),該系統(tǒng)非常適合于金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用,它提供了極其快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。

 

 

從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看,SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠高性能的光譜儀。對(duì)于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車(chē)和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來(lái)說(shuō),她給出的解決方案同樣出色。

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