X射線熒光光譜儀是一種可以對(duì)任何種類的樣品進(jìn)行元素分析的儀器,無論要分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF技術(shù)將準(zhǔn)確度和精密度與簡(jiǎn)單和快速的樣品準(zhǔn)備完美結(jié)合,對(duì)鈹(Be)到鈾(U)的元素喜遷分析,濃度范圍從100%到低至亞ppm級(jí)。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法以其的準(zhǔn)確度、精密度和可靠性著稱。這種強(qiáng)大的分析技術(shù),使其可用于所有形式的工業(yè)應(yīng)用,例如水泥、聚合物、煉油廠、采礦及工業(yè)礦物等。
X射線熒光光譜儀的無標(biāo)樣和定量分析方法如下:
一、X射線熒光光譜儀無標(biāo)樣分析方法
對(duì)于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù),要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度,限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。
而X射線熒光光譜無標(biāo)樣分析技術(shù)是90年代推出的新技術(shù),其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是:由儀器制造商測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品,儲(chǔ)存強(qiáng)度和工作曲線,然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中,并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此,無標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣,而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做,用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計(jì)數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點(diǎn)是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗(yàn)與知識(shí),包括測(cè)量條件,自動(dòng)譜線識(shí)辨,背景扣除,譜線重疊校正,基體校正等。無標(biāo)樣分析技術(shù)可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個(gè)元素,應(yīng)用范圍較廣,但其適用性也帶來了分析準(zhǔn)確度的局限性。
二、X射線熒光光譜儀定量分析方法
X射線熒光光譜法是一種相對(duì)分析方法,光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度,要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系,需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)元素的濃度和已測(cè)的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線,以該工作曲線為基礎(chǔ)測(cè)試同類型樣品元素的組成和含量。
以上就是X射線熒光光譜儀的兩種分析方法介紹,供大家參考!